ДЕБАЙ – ШЕРРЕР ӘДІСІ – рентгендік сәулелердің дифракциясы арқылы поликристалл заттарды зерттеу әдісі. 1916 жылы голланд физигі Петер Дебай (1884 – 1966) мен швейцар физигі Пауль Шеррер (1890 – 1970) ұсынған. Бұл әдіс қарапайым кристалдық ұялардың өлшемдері мен пішіндерін, ұсақ кристалдар- дың өлшемдері мен кеңістіктік бағдарлануын, деформациялар мен кернеулерді анықтау, сондай-ақ поликристалл нысандарды (объектілерді) фазалық талдау үшін пайдаланылады.